MICRO
TEST
distributeur français d’équipements et consommables pour l’industrie du Semiconducteur.
Contactez-nous
Rechercher
Accueil
Nos équipements
Front-End
Dépôt de couches minces
Sputtering/PVD
Evaporation (PVD)
CVD/PE-CVD
ALD | Modèles Haute vitesse pour R&D avancé et production
ALD | Modèles compacts
Nettoyage de wafer
Nettoyage par plasma atmosphérique
Wet Process
Photo lithographie
Spin Coater & Spray Coater
Plaques chauffantes
Clusters
Photolithographie laser
Insolateurs UV-LED et aligneurs de masques
Gravure
Gravure plasma / Usinage Ionique
Fours, Etuves
Fours de traitement et recuit
Fours Haute Température
Chambres de température
Assemblage
Montage du wafer
Montage de wafer sur tape (Wafer Mounter)
Découpe
Manual Scriber
Scriber & Breaker semi-auto (S100)
Nettoyage post sciage
Automatic Wafer Cleaner
Insolation UV
Insolateur UV Auto (UV-9200/UV-9300)
Insolateur UV Manuel (lampes ou LED)
Sorting et Micro-Câblage
Pick & Place Manuel (Die Bonder)
Pick & Place Semi-Automatique (Die Bonder)
Pick & Place Full-Automatique (Die Bonder)
Micro câbleuse à ultrason (Wire Bonding)
Systèmes laser
Laser Trimer
Marquage/perçage/découpe laser
Sérigraphie
Sérigraphieuse
Fours, Etuves
Fours statiques et Fours à passage
Chambres de température
Fours de brasage et de refusion (RSO, RSS et VSS)
Test
Test sous pointes/Prober
Probers Manuels
Probers Semi-automatiques
Probers Automatiques
Accessoires de test sous pointes
Cartes à pointes
Micro-chambres d'essai/Microsondes
Microchambre de test sous pointes
Microchambre de test pour puce LCC
Microchambre optique
Réacteur électrochimique vertical Raman
Porte-échantillon pour microscope à balayage
Test en Température
Groupe froid (chiller)
Conditionneurs de Température (Girafe)
Chambres de température
Plaques chauffantes
Autres Tests
Burn-In (Test de vieillissement)
Test HAST
Test de Fuite
Test Optique
Probers photonique automatique
Sorters Photoniques
Inspection optique : Systèmes d’AOI
Test de composants - Handler
Le Chroma 3210 (Handler)
Le Chroma 3160 C (Handler)
Le Chroma 3111 (Handler)
Le Chroma 3260 (Handler)
Le Chroma 3180 (Handler)
Le Chroma 3110 Gen2 (Handler)
Consommables et Outils
Packaging
Film frames – Cadres pour wafers
Boites individuelles pour wafers sur frames ou rings
Magazines pour wafers sur frames ou sur rings
Grip Rings (GRP) – Anneaux plastique pour wafers
Manipulation
Pinces pour wafers
Pinces Brucelles
Pinces coupantes et plieuses
Manipulation à vide
Prise par vide – wafers
Prise par vide – composants et petites pièces
Consommables de prise par vide : ventouses
Die bonding – Bonding test
Bonding tools : holders
Outils de picking
Outils de test de bonding
Pièces Détachées
Pièces détachées
Nos services
Installation/formation
SAV
Maintenance préventive et corrective
Étalonnage, calibration en température
Location d’équipements
Nos partenaires
Equipements de Front-end
Équipements d'Assemblage
Equipements de Test
Consommables
A propos
Notre équipe
Notre historique
Notre Entreprise
Nos partenaires
Localisation
Environnement
Actualités
Anglais
Français
Probers Semi-automatiques
Solutions de probing SiPH
Probers TS2000 IFE
Probers TS2000-3000-SE
Probers TS2000 – TS3000 HP
Prober TS2000 standard
