distributeur français d’équipements et consommables pour l’industrie du Semiconducteur.
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Le TS2000-SE de MPI est le tout premier système de test sous pointes d'ingénierie automatisé de 200 mm sur le marché, intégrant des caractéristiques innovantes spécifiquement conçues pour réduire le coût des tests. Ces caractéristiques sont incorporées dans le MPI ShielDEnvironment™ pour des mesures DC/CV, RF et Haute Puissance à très faible bruit, très précises et très fiables.
Le TS3000-SE est le développement naturel du système de test TS3000 équipé du MPI ShielDEnvironment™ pour des mesures DC/CV, 1/f, RTS et RF à très faible bruit, extrêmement précises et très fiables, répondant principalement aux besoins des applications de caractérisation de dispositifs, de fiabilité au niveau de la plaquette et de RF & mmW.
La conception unique de la platine de test à refroidissement actif offre une stabilité maximale sur une large plage de température allant de -60° à 300°C et fait des systèmes TS2000/3000-SE un excellent choix pour tester les dispositifs dans différentes conditions thermiques.
Ils intègrent les technologies avancées de MPI, telles que mDrive™ et/ou VCE™ en option ou en tant que mise à niveau sur site client.
ShielDEnvironment™
MPI ShielDEnvironment™ est une chambre environnementale locale de haute performance fournissant un excellent environnement de test blindé, étanche aux interférences électromagnétiques et à la lumière, pour les mesures à très faible bruit et à faible capacité.
ShielDCap™
Une partie entièrement configurable du MPI ShielDEnvironment™ qui permet jusqu'à 4 ports RF ou jusqu'à 8 ports DC/Kelvin ou une combinaison de ces configurations.
Facile à reconfigurer avec un blindage pratique qui est MPI ShielDCap™ - beaucoup de petites choses qui font la différence en simplifiant les opérations quotidiennes.
Le ShielDCap™ complet est facilement remplaçable par la version blindée EMI d'un support de carte à pointes.
Panneau de commande intégré
Le panneau de contrôle intelligent est complètement intégré au système et a été conçu sur la base de décennies d'expérience et d'interactions avec les clients afin d'offrir un contrôle du prober et des opérations de test plus rapides, plus sûrs et plus pratiques. Le clavier et la souris sont placés à des endroits stratégiques pour contrôler le logiciel si nécessaire et contrôler également l'instrumentation basée sur Windows®.
Le panneau de contrôle du vide pour les chucks Wafer et AUX se trouve sur le côté avant droit pour un accès facile pendant la procédure de chargement/déchargement.
Technologie de refroidissement AC3 brevetée par ERS intégrée
Ces chucks intègrent la technologie de refroidissement AC3 brevetée par ERS et son système de gestion de l'air pour purger le MPI ShielDEnvironment™ directement à partir de l'air "déjà utilisé" - réduisant ainsi la consommation d'air sec jusqu'à 30 à 50 % par rapport aux autres systèmes du marché.
Un grand choix de chuck en fonction de l’application
Le TS2000/3000-SE est disponible avec différentes options de chuck pour répondre à différents budgets et exigences d'application:
Chucks ambiants : Coaxial, Triaxial ou RF avec deux chucks auxiliaires en céramique pour la calibration RF précise.
Divers chucks thermiques ERS AirCool de -60°C à 300°C.
Chucks auxiliaires pour la calibration RF
Les chucks RF intègrent deux chucks auxiliaires construits en céramique pour une calibration RF précise.
Intégration des instruments de mesure
L'étagère d'instruments optionnelle réduit la longueur des câbles et augmente la dynamique et la directivité des mesures pour les applications RF et mmW.
Différents choix d'optiques et de mouvements
Une large gamme d'optiques est disponible pour toutes les applications DC/CV courantes ou pour les microscopes numériques à fort grossissement pour les configurations RF ou load-pull.
Alignement avancé
Les fonctions d'alignement avancées telles que la caméra désaxée orientée vers le bas et le caméra orientée vers le haut montée sur le chuck font du TS2000/3000-SE une plate-forme idéale pour les tests dans les configurations de mesure RF, mmW et SiPh complexes. Des décennies d'expérience de la division MPI Photonics Automation rendent cette option très fiable.
