distributeur français d’équipements et consommables pour l’industrie du Semiconducteur.

Prober manuel TS50

Station de test polyvalentes pour puces et wafers jusqu’à 50 mm – test 4 pointes

La station de test manuel MPI TS50 a été spécialement conçue pour l'ingénierie des circuits intégrés, test sous pointes d’une puce et l'utilisation universitaire dans les applications de mesure DC/CV et RF.

Le TS50, avec le plus petit encombrement (300 x 300 mm) du marché, est conçu dans sa forme la plus simple pour permettre une utilisation pratique et une mise en place rapide sans compromettre la fonctionnalité et la capacité de mesure.

 

Plate-forme flexible

  • Conçue pour la recherche, le développement et l'utilisation académique pour l'ingénierie des circuits intégrés, le test sur puce unique
    Plate-forme idéale pour le test de résistivité 4 pointes, les mesures load pull, et la mesure du bruit à haute fréquence

 

Conception ergonomique

  • Plate-forme solide et stable de faible encombrement(300 x 300 mm)
  • Plateau rigide pouvant accueillir jusqu'à 6 positionneurs DC ou 2 positionneurs
  • Opération simple pour le positionnement de la platine et du microscope

 

Évolutivité

  • Disponible avec différentes options de chucks et une gamme d'accessoires tels que DC/RF/mmW MicroPositionneurs, optiques, microscopes et boîte noire blindée EMI pour répondre aux diverses d'application

Easy stage
Le TS50 peut être configuré avec deux versions différentes de contrôle du mouvement du chuck. La version Easy Stage est une unité très simple, commandée par le vide et actionnée par une seule main, qui permet un mouvement XY-Theta très rapide et intuitif. Il s'agit de la configuration typique pour les applications DC/CV simples.

Platine linéaire XY 50×50 mm
La platine linéaire 50×50 mm XY permet un mouvement rapide et indépendant des axes avec un positionnement micrométrique XY-Theta fin et précis de 25×25 mm.
C'est l'option idéale pour les applications RF ou en combinaison avec un chuck thermique.

Réglage de la hauteur de 20 mm
Le platine de test dispose d'un réglage fin de la hauteur de 20 mm nécessaire pour prendre en charge diverses applications et peut être utilisé pour le contrôle de contact/séparation de tous les MicroPositionneurs ensemble.

Configurations multiples des micropositionneurs
Il peut être configuré avec jusqu’à 8 MicroPositionneurs MP25 ou 6 MP40 pour répondre aux multiples exigences de disposition des pads et des puces de test.

Réglage rectangulaire des micropositionneurs
En outre, le réglage rectangulaire des micropositionneurs RF à deux ports est une caractéristique standard pour garantir l'alignement des sondes RF.

Chuck RF triaxial
Pour les applications RF, le chuck triaxial de 50 mm du TS50 est équipé d’un chuck auxiliaire en céramique pour une calibration RF précise.

Large choix d'optiques et de mouvements
Une large gamme d'optiques est disponible avec un choix entre stéréo pour toutes les applications DC/CV courantes ou des microscopes à fort grossissement à tube unique pour les configurations RF ou load-pull.

Support de circuit intégré
Un support de puce unique en option transforme le TS50 en plateforme idéale pour les tests de DUT uniques jusqu'à 1×1 mm. Il comprend un interrupteur à vide stable et pratique pour sécuriser correctement des puces de taille aussi grande que 10×10 mm. L'incorporation d'un support de calibration intégré à une hauteur parallèle permet des mesures RF et peut être monté sur n'importe quel chuck, y compris une variété de chucks thermiques.

Base ou table antivibration avancée

Etagères pour instruments de mesure

Dark box (boite noire)

Compresseur et pompe à vide


Connectez-vous à notre expert
Laurent BEDDELEM
laurent.beddelem@microtest-semi.com
06.34.10.75.23

Merci d'entrer vos coordonnées pour télécharger la fiche technique.