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Probers manuels IFE

Stations de test sous pointes environnement sans givre

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Les MPI TS200-IFE/TS300-IFE (IceFreeDEnvironment™) sont le résultat du développement du IceFreeEnvironment™ de MPI, combinant le fonctionnement pratique du "système ouvert" comme le TS200/300, avec la capacité de tester à des températures négatives (jusqu'à -60°C). La conception raccourcit le trajet du signal, ce qui fait de la station de sonde un choix idéal pour les applications mmW et/ou load-pull.

Utilisation universelle

  • Conçu pour une grande variété d’applications telles que la caractérisation et la modélisation des dispositifs, tests de fiabilité, RF et mmW et l’analyse des défaillances
  • Large plage de température de -60 °C à 300 °C

 

Conception ergonomique et options

  • Contrôle unique du mouvement du chuck par coussin d’air pour un fonctionnement rapide à une seule main
  • Disponible avec diverses options de chuck et une large gamme d’accessoires tels que les micropositionneurs DC / RF / mmW, les microscopes et le ShielDEnviroment™ fournissent un excellent support pour diverses applications.

IceFreeEnvironment™
Intégrant le IceFreeEnvironment™ de MPI, le TS200/300-IFE permet de réaliser des tests avec des MicroPositionneurs et des cartes à sondes simultanément sur une large plage de température allant de -60°C à +300°C.
La conception raccourcit le trajet du signal, ce qui fait de la station de sonde un choix idéal pour les applications mmW et/ou load-pull.

Platine à coussin d’air
La conception unique de la platine sur coussin d'air MPI, avec une commande simple d'une seule main, offre un confort d'utilisation inégalé pour une navigation XY rapide et un chargement rapide des wafers sans compromettre la capacité de positionnement précis et fin avec le mouvement micrométrique XY-Theta supplémentaire :

  • YX : 25 x 25 mm
  • Résolution < 1 µm
  • Thêta : ± 5°
  • Résolution : 7,5.10-3 gradient

 

Platine unique avec Probe Hover Control™
La conception répétable (1 μm) de l'élévateur de platine comporte trois positions discrètes pour le contact, la séparation (300 μm) et le chargement (3 mm). L’ascenseur intègre un verrouillage de sécurité qui empêche la descente accidentelle de la plateforme. Ces caractéristiques offrent une fonctionnalité inégalée et intègre les systèmes de test manuel standards de MPI. Ce système prévient des dommages sur les pointes de test ou les wafers et offre un contrôle intuitif, un positionnement précis des contacts, des réglages sûrs et répétables.

Réglage unique de la position Z du chuck
Les TS200/300-IFE intègrent, en plus de la platine XY sur coussin d'air, un réglage Z du chuck de 5 mm avec une résolution au µm pour un contrôle fin et précis du contact / de l’overtravel ou la correction de pose de la carte à pointes.
Un indicateur avec une échelle de 1 mm fournit un retour d'information facile à l'opérateur. L'élévateur pneumatique de 20 mm offre en outre une procédure de chargement/déchargement facile et pratique.

Diverses options de chuck

Le TS200/300-IFE est disponible avec différentes options de chuck pour répondre à différents budgets et exigences d'application:

  • Chucks ambiants : Coaxial, Triaxial ou RF avec deux chucks auxiliaires en céramique pour la calibration RF précise.
  • Divers chucks thermiques ERS AirCool de -60°C à 300°C.

 

Intégration du contrôle de la température
La porte de chargement des wafers est simplement verrouillée à toute température inférieure à 15°C - cette caractéristique unique fait du TS200/300-IFE les stations de test manuelles la plus sûre du marché.
En outre, le chuck thermique peut être commandé à l'aide de l'écran tactile entièrement intégré, placé à un endroit pratique devant l'opérateur pour un fonctionnement rapide et un retour d'information immédiat.

Technologie de refroidissement AC3 brevetée par ERS intégrée

Ces chucks intègrent la technologie de refroidissement AC3 brevetée par ERS et son système de gestion de l'air pour purger le MPI ShielDEnvironment™ directement à partir de l'air "déjà utilisé" - réduisant ainsi la consommation d'air sec jusqu'à 30 à 50 % par rapport aux autres systèmes du marché.

Différents choix d'optiques et de mouvements

Une large gamme d'optiques est disponible avec un choix entre la stéréo pour toutes les applications courantes DC/CV ou des microscopes à fort grossissement à tube unique pour les configurations RF ou load-pull. Des caméras haute résolution pour un confort optimal sont également proposées.

Base ou table anti-vibration avancée

Etagères pour instruments de mesure

Support pour carte à pointes

Micromètres numériques

Compresseur et pompe à vide


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Laurent BEDDELEM
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