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Inspection de ruban de support IC

Carrier Tape AOI

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Conçue pour répondre aux exigences croissantes de l'industrie de l'emballage IC, la machine d’inspection automatique des rubans de support (Carrier Tape AOI) permet une détection rapide et précise des défauts sur plusieurs bandes simultanément.

Grâce à son système de vision industrielle haute résolution et ses fonctions avancées de traçabilité, cette machine s’impose comme un outil essentiel pour garantir la qualité des rubans utilisés dans le packaging semi-conducteurs (IC). Elle convient notamment aux rubans de 8 mm à 12 mm, qu'ils soient transparents, noirs ou blancs, et prend en charge jusqu’à 6 rubans simultanément, avec des vitesses allant jusqu’à 24 mètres par minute.

  • Inspection multi-ruban : jusqu’à 6 rubans de support inspectés en parallèle
  • Vitesse d’inspection élevée : jusqu’à 24 m/min
  • Caméra industrielle 2MP
  • 150 images/seconde, résolution de 11 µm
  • Détection de défauts multiples : inspection des types P2, F, E, P0, X0, Y0
  • Archivage automatique des données : tri des résultats par date, bande et type de défaut
  • Graphiques de tendance en temps réel : affichage dynamique des 1000 dernières mesures
  • Marquage automatique des défauts et enregistrement photo
  • Trois modes d'opération : production, ingénierie (image live), et réglage
  • Contrôle qualité structuré : classification des défauts sur 5 niveaux de tolérance
  • 10 modules d’inspection disponibles selon les besoins

Grâce à ses trois modes d’utilisation (production, ingénierie, tuning) et sa capacité à ajuster dynamiquement les tolérances selon les niveaux de qualité attendus, la machine permet une adaptation rapide aux exigences spécifiques de chaque ligne de production.

La traçabilité automatique par date et type de ruban offre un suivi efficace de la qualité sur l’ensemble du processus, facilitant l’identification des dérives ou défauts récurrents.


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Laurent BEDDELEM
laurent.beddelem@microtest-semi.com
06.34.10.75.23

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