PROBERS PHOTONIQUES AUTOMATIQUES

Probing haute performance de laser diode, photodetectors, optoelectronics communication devices, LED

• Top probing ou top/bottom probing
• Wafer probing, package probing ou die probing
• Basse ou haute température
• Semi-automatique ou full automatique
• Test optique (LIV, spectral…), test électrique (faible bruit, faible courant de fuite…) et test LCR
• Faible force d’appui des pointes pour éviter toute rayure
• Test mono-site ou multi-sites
• Probing très haute précision
• Chargement automatique à partir de 4 cassettes de 25 wafers
• Wafer jusqu’à 8’’