Burn-In - MICROTEST

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Equipements de Burn-In :

Déverminage de composants logique, mémoire et de puissance,
Equipements avec plusieurs zones de température et de pattern,
Equipements dédicacés à un produit et équipements plus standards,
Architecture Asic permettant le test par pin,
Systèmes fonctionnant à 10Mhz,
Générateurs de fonction analogique,
Régulation de température pour chaque composant de puissance,
Température programmable jusqu'à 150°C,
Tensions et courants programmables,
Entrées analogiques et numériques, ...



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